[1]曹 琳,等.半实物仿真技术在轨道交通用 IGBT寿命预测中的应用[J].机车电传动,2019,(05):59-62.[doi:10.13890/j.issn.1000-128x.2019.04.102]
 CAO Lin,YE Na,et al.Application of Hardware-in-the-Loop Simulation Technologyin Life Prediction of IGBT Module for Rail Transit[J].Electric Drive for Locomotives,2019,(05):59-62.[doi:10.13890/j.issn.1000-128x.2019.04.102]
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半实物仿真技术在轨道交通用 IGBT寿命预测中的应用()
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机车电传动[ISSN:1000-128X/CN:43-1125/U]

卷:
期数:
2019年05期
页码:
59-62
栏目:
研究开发
出版日期:
2019-09-10

文章信息/Info

Title:
Application of Hardware-in-the-Loop Simulation Technologyin Life Prediction of IGBT Module for Rail Transit
文章编号:
1000-128X(2019)05-0059-04
作者:
曹 琳 1 2叶 娜 1 2李 萍 1 2李碧珊 1 2陈 宏 1 2王彩琳 3
( 1. 中车永济电机有限公司 技术中心,山西 永济 044502; 2. 西安中车永电电气有限公司 技术中心,陕西 西安 710016; 3. 西安理工大学 自动化学院,陕西 西安 710048)
Author(s):
CAO Lin1 2 YE Na1 2 LI Ping1 2 LI Bishan1 2 CHEN Hong1 2 WANG Cailin3
( 1. Technical Center, CRRC Yongji Electric Co., Ltd., Yongji , Shanxi 044502, China; 2.Technical Center, Xi’an CRRC Yongdian ElectricCo., Ltd., Xi’an, Shaanxi 710016, China; 3. Automation College, Xi’an University of Technology, Xi’an, Shaanxi 710048, China )
关键词:
半实物仿真 CRH5动车组 IGBT 模块寿命预测轨道交通
Keywords:
hardware-in-the-loop simulation CRH5 EMUs IGBT module life prediction rail transit
分类号:
U268.3; TP391.9; U266.2
DOI:
10.13890/j.issn.1000-128x.2019.04.102
文献标志码:
A
摘要:
IGBT 是列车牵引变流器的核心部件,其寿命预测技术是整车故障预测与健康管理的重要依据。采用半实物仿真方式对 CRH5 型动车组 IGBT 电流、电压等参数进行提取,基于这些参数进行与寿命相关的仿真和计算。计算表明:逆变器侧 IGBT 模块寿命小于脉冲整流器侧 IGBT; IGBT 的主端子、芯片和 DBC 焊层会提前出现失效征兆现象。该方法为准确评估轨道交通用 IGBT 模块寿命预测提供参考。
Abstract:
IGBT module is the core component of the train traction converter, its life prediction technology is an important basisfor the prognostic and health management of the whole train. In this paper, the current and voltage of IGBT module in CRH5 EMUswere extracted by hardware-in-the-loop simulation method. Then, the lifetime related simulation and calculation were carried out.The calculation results showed that the lifetime of IGBT module in inverters lower than in pulse rectifier, module main terminal, chipand DBC soldering layer would be early signs of failure. This method provided a basis for accurately evaluating the lifetime of IGBTmodule in rail transit.

参考文献/References:

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备注/Memo

备注/Memo:
作者简介: 曹? 琳(1984—), 男, 博士, 高级工程师,目前主要从事大功率 IGBT 器件可靠性及 SiC 功率器件研究工作。
更新日期/Last Update: 2019-10-10